測試針

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  • 測試針 - Beryllium-Copper Probe Needles
測試針
型號 - Beryllium-Copper Probe Needles
探針鈹銅常用於低接觸電阻或高電流,其相對其他探針材質,硬度特性比較低,所以在磨損方面,會比其他探針相對等消耗還要來得快。
鈹銅探針為晶圓體分類中,其柔軟度比起傳統的鎢針提高許多,更加地柔軟,通常鈹銅探針鈹銅探針專為LED和LCD產業研發製造,鈹銅探針電性穩定,有效降低成本,是客戶的最佳選擇。

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Beryllium-Copper Probe Needles
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Cantilever Probe-- Bending foundry
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探針是探針卡(Probe Card)的核心零件,用於電子元件與測試機台之間的介面,以便晶片測試可以實際進行測試。探針的用法:它是探針卡的核心部件,用作連接的組件,通過將電信號傳輸到芯片的焊盤,分別進行測試,以區分好的產品與故障產品材質: 鎢(WNP)、錸鎢(WRNP)、P7、BC規格訂製依客戶需求可依照客戶圖面 樣品 進行訂製生產品質穩定 交期迅速原產地:美國加工地:台灣
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Tungsten Probe Needles
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此外,鎢也作為非常堅硬、緊密的材質,也常被製作成如裝甲車輛、航空高溫、散熱片甚至是船和飛機的壓重物等高密度、高硬度的應用。鎢針是一種由耐火合金組成的用於科儀器的超銳利電極,電極說有一鈍頭和尖底,由旋轉軸垂直的超大幅電極法圓柱的耐火合金組成,並可以循環撤銷和更換熔融氧化劑池桿。
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Rhenium tungsten Probe Needles
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由於鎢的熔點非常地高,所以常用於航空和高溫的環境,例如:電子加熱、焊接另外,錸鎢探針還具有以下特點: 高熔點高硬度高塑性高電阻率低蒸汽壓導電率高導熱力強